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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 測試儀器儀表 > 光傳感器和光感測器測量設(shè)備 > APD-QE光感測器量子效率測量儀
簡要描述：SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對先進(jìn)光傳感器的光感測性能要求卻越來越高。 在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準(zhǔn)檢測的挑戰(zhàn)。 我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測試方式，與各種先進(jìn)探針臺形成完整的微米級光感測器全光譜量子效率測試解決方案。
產(chǎn)品型號：APD-QE廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-07訪 問 量：2411產(chǎn)品分類
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光感測器量子效率測量儀介紹
隨著5G與移動(dòng)設(shè)備的興起與普及，越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中，為了能更好的應(yīng)用在行動(dòng)裝置上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應(yīng)用卻對先進(jìn)光傳感器的光感測性能要求卻越來越高，在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準(zhǔn)測量的挑戰(zhàn)；例如，傳統(tǒng)聚光型小光斑在不同波長下，色散差造成焦點(diǎn)位移可到mm等級。難以將所有的光子都聚焦到微米等級的感光面積中。因此，難以準(zhǔn)確測得全光譜量子效率曲線。
APD-QE 光感測器量子效率測量儀采用光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的”Irradiance Mode”測試方式，與各種先進(jìn)探針臺形成完整的微米級光傳感器全光譜量子效率測試解決方案。APD-QE已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光傳感器的測試中，例如在iPhone光達(dá)與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動(dòng)像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉(zhuǎn)換X射線傳感器等。
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